Programma del Corso di Compatibilità Elettromagnetica

Prof. Maria
Sabrina Sarto

Introduzione
alla compatibilità elettromagnetica (CEM): generalità sulla CEM, bipoli passivi
ad alta frequenza, unità di misura.

Sorgenti di disturbi
elettromagnetici: classificazione delle sorgenti, sorgenti naturali, sorgenti
artificiali non intenzionali, sorgenti artificiali intenzionali, scariche di
elettricità statica, impulso elettromagnetico.

Modi di accoppiamento
elettromagnetico: caratteristiche di disturbi elettromagnetici,accoppiamenti
conduttivo, induttivo, capacitivo, elettromagnetico.

Linea unificare a costanti
distribuite: modelli di simulazione nel dominio della frequenza, linea come un
doppio bipolo.

Linea multifilare: modelli di
simulazione nel dominio della frequenza, cavo coassiale, analisi modale, linea
come multipolo a due porte.

Diafonia: linea unifilare con
linea unifilare, con linea bifilare, con linea bifilare twistata a bassa
frequenza. Linea unifilare con linea unifilare ad alta frequenza.

Tecniche di protezione dai
disturbi condotti: circuiti bilanciati, bobine di blocco, filtri, dispositivi
per isolamento galvanico, dispositivi di protezione dalle sovratensioni.

Collegamenti a massa: la massa, i
collegamenti, collegamento a massa dello schermo di cavi. .

Misura di emissione e
suscettività condotte: ricevitori, adattatori di impedenza, stabilizzatore
dell’impedenza di rete, condensatori di accoppiamento, sonde di tensione e di
corrente, configurazioni di prova.

Emissione elettromagnetica
irradiata: onda elettromagnetica piana, dipolo elettrico e dipolo magnetico
elementari, campo vicino e campo lontano, impedenza d’onda, campo
elettromagnetico irradiato da configurazioni di dipoli elettrici, emissione
elettromagnetica irradiata da correnti di modo comune e di modo differenziale,
il campo elettromagnetico irradiato da linee unifilari. Il campo elettrico ed
il campo magnetico emessi da linee multifilari a frequenza industriale.

Suscettività irradiata di linee
unifilari: linea unifilare eccitata da onda elettromagnetica piana, onda
primaria e onda riflessa dal piano, le equazioni di propagazione nel dominio
della frequenza, formulazioni con tensioni di fase e tensioni scatterate,
calcolo degli effetti indotti, cenni sulla suscettività irradiata di linee multifilari.

Misura di emissione e
suscettività irradiate: antenne, grandezze caratteristiche, dipolo elettrico e
dipolo magnetico, antenne a larga banda, sonde di campo elettrico e di campo
magnetico, configurazioni di prova,prove in sito aperto, misure a frequenza
industriale, prove in sito chiuso, camere schermate, anecoiche, riverberanti,
celle TEM, celle GTEM.

Schermatura del campo
elettromagnetico: efficienza di schermatura, campi stati e campi dinamici, il
modello della linea di trasmissione, schermi conduttori, schermatura a bassa
frequenza e a radiofrequenza, schermi piani multistrato, cenni su schermi
volumetrici, con aperture, trasparenti.

Scariche elettrostatiche: origine
ed effetti, calcolo e misura degli effetti, tecniche di protezione.

Nuovi materiali per la compatibilità
elettromagnetica. Materiali compositi. Materiali radar assorbenti. Superfici
selettive in frequenza. Metamateriali.

Esposizione delle persone ai
campi elettromagnetici: effetti biologici a bassa frequenza e a radiofrequenza,
ambienti elettromagnetici critici, controllo e protezioni.

Elementi di normative di CEM.

Laboratorio
di calcolo: simulazione di bipoli reali nel dominio della frequenza, modi di
accoppiamento, simulazione di linea aerea multifilare, simulazione di un cavo
coassiale sul piano, propagazione in cavo coassiale, diafonia a bassa frequenza
e ad alta frequenza, filtri, emissione elettromagnetica a bassa frequenza e ad
alta frequenza, suscettività irradiata in regime sinusoidale e in regime
transitorio, trasformata discreta di Fourier di onde transitorie, efficienza di
schermatura di schermi piani, indefiniti.

Laboratorio
di misura: spettro in frequenza di bipoli reali, propagazione su linee e
diafonia, emissione e suscettività condotte, filtri, antenne e sensori,
efficienza di schermatura di schermi piani, film sottili e materiali compositi.